Sistem pengukuran potensi · saiz zarah · molekul ZETA ELSZ-2000 siri

Peranti ini boleh mengukur potensi ZETA · saiz zarah dan berat molekul penyelesaian dengan kepekatan rendah ~ kepekatan tinggi.
Julat ukuran saiz zarah (0.6nm ~ 10μm), julat kepekatan (0.00001% ~ 40%). Pengukuran aliran penembusan elektrik, pengukuran potensi ZETA yang tepat, Z kapasiti kecil adalah sel sekali pakai 130 μL ~.
Selain itu, dalam julat suhu yang besar 0 ~ 90 ℃, mengukur ruang gradien suhu automatik dan menganalisis perubahan dan suhu pemindahan fase.

Ciri-ciri:

• Menggunakan APD sensitiviti tinggi Z baru, meningkatkan sensitiviti dan mengurangkan masa pengukuran

• ▸ Analisis Analisis variabiliti dan pemindahan suhu pemindahan fase pemindahan suhu suhu fase dengan mengukur ruang suhu

• Boleh mengukur suhu dalam julat 0 ~ 90 ℃

• Tambah pelbagai fungsi pengukuran berat molekul dan analisis

• Ukuransaiz zarah sampel kepekatan tinggi · potensi ZETA

• Menguji aliran penembusan elektrik dalam sel, menganalisis plot untuk memberikan keputusan pengukuran potensi ZETA yang tepat

• Pengukuran potensi ZETA dalam larutan garam yang tinggi

• Ukuran potensi ZETA pada panel rata sampel kawasan kecil

Aplikasi:

Digunakan untuk penyelidikan asas dan penyelidikan gunaan sains permukaan dalam bidang kimia antara muka, bahan anorganik, semikonduktor, polimer, biologi, farmasi, perubatan, selain zarah mikro, sampel membran dan plat.

Bahan Fungsional Baru

• Berkaitan dengan sel bahan api (karbon nanohose, fulerene, filem fungsional, katalis, nanologam)

• Bio-nano berkaitan (nanokapsul, molekul buatan, DDS, nanopartikel bio), gelembung nano dan lain-lain

Industri keramik dan warna

• Keramik (Silikon Dioksida, Aluminium Oksida, Titanium Oksida dan lain-lain)

• <unk> Pengubahan permukaan, penyebaran dan kawalan pengumpulan penyelesaian koloid tanpa polar

• KaKawalanpengawal penyebaran dan pengumpulan pigmen (karbon hitam, pigmen organik)

• Filem warna

• Kajian penyerapan bahan penangkap mineral yang dipilih terapung

Bidang Semikonduktor

• <unk> Mengenal struktur benda asing yang melekat pada wafer silikon

• Kajian interaksi pengisar atau bahan tambahan dan permukaan wafer

Industri polimer dan kimia

• KaKawalanpengawal penyebaran dan pengumpulan emulsi (cat / lem), pengubahsuaian permukaan lateks (untuk perubatan dan industri)

• Penyelidikan fungsional elektrolit polimolekul (polietilena sulfat, polikarbonat dan lain-lain), nanopartikel fungsional

• Kawalan kejuruteraan kertas dan penyelidikan bahan tambahan kertas

Industri Perubatan dan Makanan

• KaKawalanpengawal penyebaran dan pengumpulan emulsi (makanan, rempah-rempah, perubatan dan kosmetik), fungsi protein

• ▸ kawalan pengawal pengawal penyebaran penyebaran penyebaran penyebaran lipids lipidom, pembedahan dan pembentuk pembekuangulasi, fungsionaliti aktif antara

Spesifikasi produk:

• ⋄ ELSZ-2000Z

• Kaedah Pengukuran Laser Doppler

• sumber cahaya laser semikonduktor berkuasa tinggi dan kestabilan tinggi

• Bahagian sensor APD sensitiviti tinggi

• 、 bekas 、 bekas sampel sampel bekas sampel standard, bekas sampel bekas sampel standard, bekas sampel (130μl ~ 130μl) bekas (~) bekas (130μl) beka

• Julat suhu 0 ~ 90 ℃ (dengan fungsi gradien)

• Spesifikasi bekalan kuasa 100V ± 10% 250VA, 50 / 60 Hz

• Saiz 380 (W) × 600 (D) × 210 (H) mm

• Berat kira-kira 22kg

Lampiran Pilihan:

• Sistem Titrator pH (ELSZ-PT) • Bekas Sampel Plat

• * Kontena sampel kepekatan sederhana dan tinggi untuk potensi sempadan • Kontena sampel konstan dielektrik rendah untuk potensi sempadan

• * Kontena sampel yang boleh dibuang dengan jumlah jejak untuk potensi terbatas